Thách thức lớn nhất trong các quy trình thử nghiệm đối với cảm biến glucose là việc trực quan hóa cảm biến kim trong các lớp mô của da nhân tạo được sử dụng.

Nguồn tia X transmission bền bỉ của Werth cho phép đo nhanh với độ phân giải cấu trúc cao. Với sự trợ giúp của tính năng xử lý hình ảnh đường viền của Werth, cảm biến kim và các lớp mô có thể được đo ở bất kỳ mặt cắt nào trong mô hình kỹ thuật số. Tính năng MultiMaterialScan giúp tính toán các đám mây điểm đo riêng biệt với độ chính xác subvoxel cho một số vật liệu có mật độ khác nhau. Điều này cho phép làm mờ dần các đám mây điểm của các lớp mô khác nhau để hiển thị 3D cơ chế ứng dụng và cảm biến kim.
Các quy trình phần mềm ClearCT và CT HR đa phổ mới cho phép thực hiện các phép đo có độ phân giải cao, ít nhiễu trong thời gian ngắn, ngay cả trên các vật liệu hoặc mẫu đo phức tạp.

